Serviço técnico-científico de caracterização superficial em alta resolução, realizado por meio de Microscopia de Força Atômica (AFM). O AFM permite investigar morfologia, rugosidade e propriedades físicas, químicas, elétricas ou magnéticas de superfícies em escala nanométrica.
O CETEM utiliza equipamento de última geração, capaz de operar em diversos modos (contato, contato intermitente, contraste de fase, força magnética, força elétrica e mapeamento de força), possibilitando análises 2D e 3D com grande precisão.
Este serviço é útil para pesquisa, desenvolvimento tecnológico, controle de qualidade e otimização de materiais, permitindo compreender a estrutura e o comportamento superficial de amostras metálicas, cerâmicas, poliméricas, biológicas, minerais e outras.
O acesso é franqueado mediante contrapartida financeira ou não financeira de acordo com a política de inovação do CTI e o regramento interno.